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产品介绍:★.各种镀层(多层、合金、多层镍)的精密测量。★.除平板形外,还可测量圆形、棒形(细线)等各种形状。★.可测0.01μm-300μm的镀层。★.可高精度测量其它方式不易测量的三层以上的镀层。★.可对测量数据进行统计处理,以及和主机进行共同管理。★.可制作非破坏式膜厚仪的标准板。★.可检查非彼坏式膜厚仪的测量精度。产品特点:★.由微处理器来进行计算、储存、思考。★.本膜厚仪采用全对话式操作,因此,只要依照测量条件来进行设定就可测量,非常简单。★.由於可储存64个不同的测量情况,所以有相同的测量情况时,就不必再进行设定。*每个测量条件可储存9999个数据。★.最多可设定四层镀层,而每一层均可进行统计处理例如:测量条件、平均值、最大值、最小值、上下限值、直方圆均可进行计算并可由列印机印出,制作测量报告很容易。★.每种镀层所需的电解液,敏感度及搅动标准的选择,均可由微处理器自动判断、设定。★.标准板校正值的计算和设定可自动进行,非常简单。★.测量数据可由通讯网路来传输,所以能和主机共同进行数据管理。★.由于分解速度差距分得很细,因此可缩短测量时间。★.可分离测量铜(合金)上的锡(合金)镀层间的扩散(合金)层。★.有表面活性化的功能,所以表面处理很容易。★.我们特别的测量台(先进)是利用条形弹簧方式,因此操作非常容易。
.型号: CT-2 1.测量范围: 0.006~300μm12.量大分解能: 0.001μm3.本机精度: +/-1%4.电解速度: 250,125,50,25,12.5,5,2.5, 1.25μm/Sec5.测量单位: μm,nm,mil,Ml 6.测量面积: ф1.7,ф2.4, ф3.4mm7.电源: AC100V±10%,50/60Hz,200W (OPTION: AC115V,230V)8.主机尽寸: 300(W),250(D),150(H)mm9.重量: 3Kg